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日本OTSUKA大塚电子 智能涂层测厚仪 SM-100P
日期：2025-03-31 18:37
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摘要：日本OTSUKA大塚电子 智能涂层测厚仪 SM-100P
智能涂层测厚仪 SM-100 series
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高精度便携式薄膜测厚仪
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| 项目 | 专业版 | 标准 |
| 型 | SM-100P 系列 | SM-100S 系列 |
| 测量方法 | 反射光谱法（光学干涉法） | |
| 测量薄膜厚度范围*1 |
0.1~100μm（单层） 1~100μm（多层） |
1~50μm （单层） |
| 多层支持 | *多 3 层 | 1 层 |
| 测量可重复性 | 2.1σ 0.01μm （氧化硅膜 1μm） | |
| 测量光斑直径 | Φ1mm 以下 | |
| 测量时间 | 小于 1 秒 | |
| 数据输出格式 | 以文本格式导出到 U 盘 | |
| 体型 |
约 138 （W） × 198 （D） × 61 （H） 毫米 |
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| 重量 | 约 1.1 千克 | |
| 行驶时间 | 4 小时或更长时间（测量） | |
| 电源电压/电源 | AC100-240V/35VA （交流适配器输入） | |
| 防护等级 | IP30/IK06 防护等级 | |
*1 样品折射率为 1.6 时